Laboratorní RTG profilometr pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury pomocí ostré hrany plochého svazku

AbstraktAbstract

RTG profilometr je určen pro nedestruktivní zkoumání vrstevnaté struktury ležící na substrátu. Zkoumaný objekt je ozařován rovinným a ostrým RTG svazkem , který dopadá na povrch pod velmi ostrým úhlem. Rozptýlené a fluorescenční fotony jsou zaznamenávány dirkovou kamerou osazenou polovodičovým pixelovým detektorem. Tloušťky vrstev jsou měřeny s mikrometrickou přesností díky analýze signálu, vzniklého na ostré hraně RTG svazku. Zařízení je primárně určeno pro zkoumání polychromie středověkých deskových maleb, může být ale využito i obecněji.

RTG profilometer targets the inspection of a layered structure deposited onto a massive substrate. The investigated object is irradiated by a planar, sharp X-ray beam passing over the surface at an acute angle. The scattered and XRF photons are recorded by a pinhole camera equipped with a semiconductor pixelated detector. Measurement of the layer thicknesses with micrometric precision is obtained by analyzing changes in the signal produced at the sharp edge of the X-ray beam. The device primarily targets the investigation of medieval wooden panel paintings based on polychromy but it can more general.