Odhalování skrytých detailů
- NázevTitle
- Odhalování skrytých detailůUncovering hidden details
- Druh výsledkuResult type
- Článek v časopiseJournal article
- AutořiAuthors
- J. Žemlička
- Časopis / citaceJournal / citation
- TecniCall. 2018, 18-21. ISSN 1805-1030.
- RokYear
- 2018
- JazykLanguage
- cze
- RIVRIV
- RIV/68407700:21670/18:00337773!RIV20-MSM-21670___
- ProjektProject
- Inženýrské aplikace fyziky mikrosvětaEngineering applications of microworld physics
AbstraktAbstract
Oddělení fyzikálních aplikací a technologií se v rámci ÚTEF ČVUT dlouhodobě věnuje rozvoji nedestruktivních detekčních metod s důrazem na rentgenovou mikro-radiografii a mikrotomografii (mikro-CT) v oblastech materiálového inženýrství, kulturního dědictví a přírodních věd. Díky vlastnostem moderní detektorové technologie Timepix je možné zachytit idrobné rozdíly mezi velmi podobnými materiály. To umožňuje s vysokým rozlišením a kontrastem zobrazit i objekty, u kterých standardní radiografické a tomografické systémy selhávají.
Within the IEAP CTU, the Department of Physical Applications and Technologies has long been involved in the development of non-destructive detection methods with an emphasis on X-ray micro-radiography and microtomography (micro-CT) in the fields of material engineering, cultural heritage and natural sciences. Thanks to the features of modern Timepix detector technology, it is possible to capture the slight differences between very similar materials. This makes it possible to display objects with standard radiographic and tomographic systems failing with high resolution and contrast.