Pokročilé metody detekce ionizujícího záření s polovodičovými pixelovými detektory
- NázevTitle
- Pokročilé metody detekce ionizujícího záření s polovodičovými pixelovými detektoryAdvanced methods of ionizing radiation detection with semiconductor pixel detectors
- ProgramProgramme
- Studentská grantová soutěž ČVUTStudentská grantová soutěž ČVUT
- Doba řešeníDuration
- 2013-01-01 – 2015-12-31 ukončenýconcluded
- Vztah ČVUTCTU relation
- ČVUT je v pozici příjemce jako jediný účastník projektuCTU is the only beneficiary participant in the project
- Řešitel ČVUTCTU investigator
- Ing. Stanislav Pospíšil, DrSc.
- Řešitelský tým (ÚTEF)Team (IEAP)
- Ing. Zdeněk Vykydal, Ph.D. (člen řešitelského týmuresearch team member)
- Ing. Jan Jakůbek, Ph.D. (člen řešitelského týmuresearch team member)
AbstraktAbstract
Cílem projektu je metodický rozvoj měření směsných radiačních polí na základě analýzy charakteristických stop jednotlivých interakcí částic IZ v pixelových polovodičových detektorech a dále vývoj pokročilých metod radiografie a tomografie a jejich aplikace. S tím souvisí nutnost energetické a účinnostní kalibrace pixelových detektorů a studium jejich radiační odolnosti. Veškeré práce budou probíhat s maximálním zapojením studentů v rámci témat jejich dizertačních prací. Projektu se účastní celkem osm doktorandů z různých fakult napříč ČVUT. Předpokládá se, že několik z nich ukončí svoje postgraduální studium v průběhu projektu a v návaznosti na to budou následně přijati další studenti.
The aim of the project is a development of methodology of mixed radiation field evaluation based on characteristic track analysis caused by interaction of individual ionizing particles in semiconductor pixel detectors. The project is also closely related to development of advanced radiographic and tomographic techniques and their applications. Both tasks need precise energetic and efficiency calibration of the pixel detectors and evaluation of their radiation hardness. All work related to this project will run with maximal involvement of students in frame of their dissertations. In total there are eight doctoral students from different CTU faculties involved in the project. It is assumed that several of them will finish their studies during the project and new students will be involved consequently.
VýsledkyResults
1220156
- TEC PTWTEC PTW SoftwareSoftware
- Switching current regulator for SiPM biasingSwitching current regulator for SiPM biasing Funkční vzorekFunctional sample
- Software pro automatickou akvizici dat pro energetickou kalibraci pixelových detektorů pracujících v Time-Over-Treshold režimu pomocí LED diodSoftware for automatic data acquisition for pixel detector energetic calibration in Time-Over-Treshold mode using LED diode Funkční vzorekFunctional sample
- SELSEL SoftwareSoftware
- LED calibration deviceLED calibration device Funkční vzorekFunctional sample
- DSA - Data Storage ApplicationDSA - Data Storage Application SoftwareSoftware
20146
- X-ray Phase Contrast Imaging with Hybrid Semiconductor Pixel DetectorsX-ray Phase Contrast Imaging with Hybrid Semiconductor Pixel Detectors Kvalifikační práceThesis
- Table-top phase-contrast X-ray microradiography of biological samples with Medipix type detector and flat-panelTable-top phase-contrast X-ray microradiography of biological samples with Medipix type detector and flat-panel Příspěvek ve sborníkuProceedings paper
- Software for Energy Calibration of Pixel Detectors working in Time-Over-Threshold ModeSoftware for Energy Calibration of Pixel Detectors working in Time-Over-Threshold Mode Funkční vzorekFunctional sample
- Separation efficiency of the MASHA facility for short-lived mercury isotopesSeparation efficiency of the MASHA facility for short-lived mercury isotopes Článek v časopiseJournal article
- MRI-SPECT insert system with Hybrid Semiconductor detectors Timepix for an experimental tomograph Bruker 47/20MRI-SPECT insert system with Hybrid Semiconductor detectors Timepix for an experimental tomograph Bruker 47/20 Funkční vzorekFunctional sample
- Experimental SPECT system based on Hybrid Semiconductor detectors TimepixExperimental SPECT system based on Hybrid Semiconductor detectors Timepix Funkční vzorekFunctional sample